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美国International Light紫外辐照计XSD340A规格说明书

 

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保证测量结果精确可靠。关于美国International Light XSD340A 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://www.testeb.com/XSD340A.html

美国International Light XSD340A紫外辐照计 美国International Light XSD340A 紫外辐照计

 

 

XSD340A说明书文档下载地址

美国International Light XSD340A 紫外辐照计规格说明文档下载链接地址http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf。(注)点击链接可直接阅读文档,或右键选择“另存为”保存到电脑。

 

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XSD140B说明书:http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD140B.pdf

UVA说明书:http://www.testeb.com/download/201601/UV-A_manual.pdf

XSD340AT7说明书:http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD340AT7.pdf

SED005-UVF-A313说明书:http://www.testeb.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf

SED254QT说明书:http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_SED254-QT.pdf