辐照度计 型号/图片

北师大光电UVB紫外线辐照计254nm杀菌灯辐照度测量

UV-B紫外辐照计测量紫外线波长范围λ=230～275nm/λp=254nm，或λ=275～330nm/λp=297nm，自动量程切换，响应时间1秒，适用于杀菌、光刻、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。

美国IL国际光学ILT2400测光表XSD340A探头405nm光刻胶辐照度

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺，可测量320-475nm光阻剂作用光谱，校准于405nm，光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2，NIST可溯源ISO17025认证校准报告，保证测量结果精确可靠。

美国IL ILT2400辐照计XSD140B探头365nm光阻剂光刻胶辐射测量

International Light国际光学ILT2400辐照计专用探头XSD140B用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量，响应波段326-401nm，中心波长365nm，辐照度量程7e-8至1W/cm2，研究级的质量，手持式产品的价格。

美国IL国际光学ILT2400辐照计SED254/QT探头254nm紫外杀菌灯测量

International Light ILT2400辐照计SED254/QT探头光谱响应波段249-259nm，校准于254nm中心波长，辐照度量程范围7e-7~10W/cm2，专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果，带美国NIST可溯源校准和证书。

北师大光电UVA紫外辐照计UV-A紫外线照度计365nm波长

UV-A紫外辐照计新款自动量程型号可手动/自动量程切换，测量上限199.9 mW/cm2，分辨率0.0001 mW/cm2，波长范围λ=320～400nm，λP＝365nm，适用于光化学、高分子材料老化、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长30W/cm2高功率曝光

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测，校准于365nm光阻剂作用光谱，精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度，可测量高达30W/cm2 高强度，用于PCB印刷电路板光及半导体业。

美国ILT2400紫外辐照计XSD340AT7探头XIR395nm波长校准片

International Light ILT2400辐照计及XSD340AT7探头、XIR395校准片用于精确控制395nm波长曝光强度等级和曝光时间，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。

ST-86LA屏幕亮度计19990cd/㎡自动量程切换

ST-86LA亮度计为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计，在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途，便携式自动量程切换，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定适用性强。

路昌UVC-254紫外线辐照计UVC254紫外光强度计

路昌紫外线辐照计UVC-254照度计是专业高品质UV表，中心点254nm光谱响应范围，测量波段248~260nm，带补正滤光镜的专用UV探头，应用于紫外线杀菌、光学匹配、实验室研究。

台湾路昌UV-340A紫外辐照计UV340A紫外线强度计

LUTRON路昌UV-340A照度计是UVA+UVB型紫外线辐照计，测量波长290nm~390nm，紫外线强度量程范围0~1999uW/cm2、2000~~19990uW/cm2，可用于焊接时监测蓝紫射线辐射、阳光辐射监测、UV杀菌、光刻曝光及实验室用途。