辐照度计 型号/图片

美国IL国际光学ILT2400+XSD340A辐照计320-475nm紫外线光阻剂曝光测量

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺，可测量320-475nm光阻剂作用光谱，校准于405nm，光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2，NIST可溯源ISO17025认证校准报告，保证测量结果精确可靠。

以色列ophir Vega激光功率计能量计200-1700nm波长0.15-20um激光

以色列OPHIR VEGA手持式激光功率能量计是一款彩色多功能通用型测量主机，可以配合OPHIR任何一款热电堆、光电或热释电探头匹配使用，响应光谱范围涵盖紫外至红外波长200-1700nm、短脉冲激光至高能量激光0.15-20um，可存储20万个数据，内置USB和RS232接口与计算机通讯。

美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长30W/cm2高功率曝光

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测，校准于365nm光阻剂作用光谱，精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度，可测量高达30W/cm2 高强度，用于PCB印刷电路板光及半导体业。

北师大光电UVB紫外线辐照计254nm杀菌灯辐照度测量

UV-B紫外辐照计测量紫外线波长范围λ=230～275nm/λp=254nm，或λ=275～330nm/λp=297nm，0.1～199900μW/cm2自动量程切换，响应时间1秒，适用于杀菌、光刻、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。

美国IL ILT2400辐照计XSD140B探头365nm光阻剂光刻胶曝光蚀刻测量

International Light国际光学ILT2400+XSD140B辐照计用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量，响应波段326-401nm，中心波长365nm，辐照度量程7e-8至1W/cm2，研究级的质量，手持式产品的价格。

美国ILT2400-222UV辐照计222nm准分子UVC LED紫外杀菌光源测量验证带校准证书

International Light ILT2400-222UV辐照计经过专门配置和校准，具有经ISO17025认可的NIST可追溯校准证书，可测量220-222nm准分子灯辐射照度，辐照度8 nW/cm2至4 mW/cm2，剂量范围8 nJ/cm2至数百万mJ/cm2，用于窄带UVC紫外杀菌消毒系统中的光源测量验证，帮助抗击COVID-19新冠病毒和其他传染病。

以色列OPHIR NOVA II能量计功率计200-1700nm及0.15-20um激光带模拟输出

OPHIR NOVA II手持激光功率能量计数字或模拟指针显示，通过连接探头测量响应紫外至红外波长200-1700nm、短脉冲激光至高能量激光0.15-20um，显示单位辐照度W/cm2、功率W、能量J，具有模拟信号输出功能，可记录存储54000个数据。

北师大光电UVA辐照计365nm波长UV-A紫外线辐射量程199.9mW/cm2

UV-A紫外辐照计新款自动量程型号可手动/自动量程切换，测量上限199.9 mW/cm2，分辨率0.0001 mW/cm2，响应光谱范围320～400nm，中心波长365nm，适用于光化学、高分子材料老化、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

美国IL国际光学ILT2400辐照计SED254/QT探头254nm高强度紫外杀菌灯测量

International Light ILT2400辐照计SED254/QT探头光谱响应波段249-259nm，校准于254nm中心波长，辐照度量程范围7e-7~10W/cm2，专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果，带美国NIST可溯源校准和证书。

北京师大光电FZ-A辐照计400~1000nm可见光波长辐照度测量仪

北师大光电FZ-A型辐照计选用高精度低功耗数字芯片，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，可以用来测量可见光辐照度，波长范围400～1000nm、725～1050nm，量程199.9 mW/cm2，可手动/自动量程切换。