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辐照度计 - 紫外辐照计 型号/图片

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美国IL国际光学ILT2400+XSD340A辐照计320-475nm紫外线光阻剂曝光测量

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保证测量结果精确可靠。

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以色列ophir Vega激光功率计能量计200-1700nm波长0.15-20um激光

以色列OPHIR VEGA手持式激光功率能量计是一款彩色多功能通用型测量主机,可以配合OPHIR任何一款热电堆、光电或热释电探头匹配使用,响应光谱范围涵盖紫外至红外波长200-1700nm、短脉冲激光至高能量激光0.15-20um,可存储20万个数据,内置USB和RS232接口与计算机通讯。

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美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长30W/cm2高功率曝光

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测,校准于365nm光阻剂作用光谱,精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度,可测量高达30W/cm2 高强度,用于PCB印刷电路板光及半导体业。

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peifbnu紫外辐照计UVB

北师大光电UVB紫外线辐照计254nm杀菌灯辐照度测量

UV-B紫外辐照计测量紫外线波长范围λ=230~275nm/λp=254nm,或λ=275~330nm/λp=297nm,0.1~199900μW/cm2自动量程切换,响应时间1秒,适用于杀菌、光刻、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。

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美国IL ILT2400辐照计XSD140B探头365nm光阻剂光刻胶曝光蚀刻测量

International Light国际光学ILT2400+XSD140B辐照计用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量,响应波段326-401nm,中心波长365nm,辐照度量程7e-8至1W/cm2,研究级的质量,手持式产品的价格。

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美国ILT2400-222UV辐照计222nm准分子UVC LED紫外杀菌光源测量验证带校准证书

International Light ILT2400-222UV辐照计经过专门配置和校准,具有经ISO17025认可的NIST可追溯校准证书,可测量220-222nm准分子灯辐射照度,辐照度8 nW/cm2至4 mW/cm2,剂量范围8 nJ/cm2至数百万mJ/cm2,用于窄带UVC紫外杀菌消毒系统中的光源测量验证,帮助抗击COVID-19新冠病毒和其他传染病。

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以色列OPHIR NOVA II能量计功率计200-1700nm及0.15-20um激光带模拟输出

OPHIR NOVA II手持激光功率能量计数字或模拟指针显示,通过连接探头测量响应紫外至红外波长200-1700nm、短脉冲激光至高能量激光0.15-20um,显示单位辐照度W/cm2、功率W、能量J,具有模拟信号输出功能,可记录存储54000个数据。

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peifbnu紫外辐照计UVA

北师大光电UVA辐照计365nm波长UV-A紫外线辐射量程199.9mW/cm2

UV-A紫外辐照计新款自动量程型号可手动/自动量程切换,测量上限199.9 mW/cm2,分辨率0.0001 mW/cm2,响应光谱范围320~400nm,中心波长365nm,适用于光化学、高分子材料老化、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

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美国IL国际光学ILT2400辐照计SED254/QT探头254nm高强度紫外杀菌灯测量

International Light ILT2400辐照计SED254/QT探头光谱响应波段249-259nm,校准于254nm中心波长,辐照度量程范围7e-7~10W/cm2,专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果,带美国NIST可溯源校准和证书。

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美国ILT2400辐照计SED185探头185nm臭氧杀菌探测器UV光解废气

International Light ILT2400辐照计专用SED185/NS185臭氧杀菌探测器安装了窄带滤光片,响应光谱范围165~200nm ,中心波长185nm,专为测量低强度185nm波长的臭氧杀菌紫外线辐照度,应用于与光解废气、水处理和表面杀菌行业。

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