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辐照度计 - 紫外辐照计 型号/图片

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美国ILT2400辐照计SED005/UVF/A313探头UV LED能量计350-400nm

International Light ILT2400辐照计及SED005/UVF/A313探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计,在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应,辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2,可添加峰值波长的PIR校准过滤片,带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

美国International Light代理商报价联系电话:18823303057
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美国IL国际光学ILT2400测光表XSD340A探头405nm光刻胶辐照度

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保证测量结果精确可靠。

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以色列ophir Vega激光功率计红外紫外线波长光谱能量计

以色列OPHIR VEGA手持式激光功率能量计表头是一款彩色多功能通用型表头,可以配合OPHIR任何一款热电堆、光电或热释电探头匹配使用,内置USB和RS232接口与计算机通讯。

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美国IL国际光学ILT2400辐照计SED254/QT探头254nm紫外杀菌灯测量

International Light ILT2400辐照计SED254/QT探头光谱响应波段249-259nm,校准于254nm中心波长,辐照度量程范围7e-7~10W/cm2,专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果,带美国NIST可溯源校准和证书。

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peifbnu紫外辐照计UVA

北师大光电UVA紫外辐照计UV-A紫外线照度计365nm波长

UV-A紫外辐照计新款自动量程型号可手动/自动量程切换,测量上限199.9 mW/cm2,分辨率0.0001 mW/cm2,波长范围λ=320~400nm,λP=365nm,适用于光化学、高分子材料老化、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

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美国International Light ILT800辐照计输送带式UV固化曝光能量计

International Light ILT800能量计以其215nm至475nm的宽光谱测量范围覆盖了各种测光需求,紧凑型一体化设计,特别适合用于测量每分钟1~80英尺的传送带式曝光设备的曝光量,可应对紫外线固化设备中常见的极端环境条件。

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International Light ILT2400辐照计XSD340AT7探头405nm紫外线UV固化

美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度,量程8e-6至60W/cm2,可用于高强度曝光机UV固化工艺测量,以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。

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美国IL ILT2400辐照计XSD140B探头365nm光阻剂光刻胶辐射测量

International Light国际光学ILT2400辐照计专用探头XSD140B用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量,响应波段326-401nm,中心波长365nm,辐照度量程7e-8至1W/cm2,研究级的质量,手持式产品的价格。

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peifbnu紫外辐照计UVB

北师大光电UVB紫外线辐照计254nm杀菌灯辐照度测量

UV-B紫外辐照计测量紫外线波长范围λ=230~275nm/λp=254nm,或λ=275~330nm/λp=297nm,自动量程切换,响应时间1秒,适用于杀菌、光刻、水处理、医疗、育种等领域的紫外辐照度测量工作。

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美国ILT2400+XSD005UVF UVLED辐照计350-410nm固化曝光测量

国际光学International Light ILT2400+XSD005UVF辐照计探头具有平坦一致性的光谱曲线,该系统适用于监测UV LED固化曝光能量强度及时间,在UV固化的关键区域350-410nm波长提供更均匀的响应,以手持式的价格提供研究级的质量。

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