美国International Light紫外辐照计XSD340AT7规格说明书

美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高强度曝光机UV固化工艺测量，以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。关于美国International Light XSD340AT7 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://www.testeb.com/XSD340AT7.html

美国International Light XSD340AT7 紫外辐照计

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SED005-UVF-A313说明书：http://www.testeb.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf

XSD340A说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf

SED254QT说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_SED254-QT.pdf

UVA说明书：http://www.testeb.com/download/201601/UV-A_manual.pdf

XSD140B说明书：http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD140B.pdf