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美国International Light紫外辐照计XSD340AT7规格说明书

 

美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度,量程8e-6至60W/cm2,可用于高强度曝光机UV固化工艺测量,以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。关于美国International Light XSD340AT7 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://www.testeb.com/XSD340AT7.html

美国International Light XSD340AT7紫外辐照计 美国International Light XSD340AT7 紫外辐照计

 

 

XSD340AT7说明书文档下载地址

美国International Light XSD340AT7 紫外辐照计规格说明文档下载链接地址http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD340AT7.pdf。(注)点击链接可直接阅读文档,或右键选择“另存为”保存到电脑。

 

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