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美国International Light紫外辐照计XSD340B规格说明书

 

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测,校准于365nm光阻剂作用光谱,精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度,可测量高达30W/cm2 高强度,用于PCB印刷电路板光及半导体业。关于美国International Light XSD340B 紫外辐照计详细产品介绍请点击图片或网址http://www.testeb.com/XSD340B.html

美国International Light XSD340B紫外辐照计 美国International Light XSD340B 紫外辐照计

 

 

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美国International Light XSD340B 紫外辐照计规格说明文档下载链接地址http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf。(注)点击链接可直接阅读文档,或右键选择“另存为”保存到电脑。

 

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