• 红外测温枪★红外测温仪 测温枪
  • 安捷伦数据采集器★安捷伦 数据采集器
  • 红外热成像仪价格★热像仪
  • 泰克tektronix示波器★示波器 泰克
  • 艾默生中文手操器★手操器 中文

美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长30W/cm2高功率曝光

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测,校准于365nm光阻剂作用光谱,精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度,可测量高达30W/cm2 高强度,用于PCB印刷电路板光及半导体业。

紫外辐照计品牌:美国International Light
美国International Light

请拨打电话,或在线联系我们,告诉我们你要什么
您将会得到省事省心的产品选型、价格报价服务!
XSD340B说明书
  • 美国International Light辐照度计XSD340B
  • 美国International Light辐照度计XSD340B
  • 美国International Light辐照度计XSD340B
  • 美国International Light辐照度计XSD340B
  • 美国International Light辐照度计XSD340B

XSD340B图片

  • XSD340B
  • XSD340B
  • XSD340B
  • XSD340B
  • XSD340B

美国International Light XSD340B 紫外辐照计规格参数与图片

Photoresist光阻剂广泛用于PCB线路板行业,通过其使用蚀刻化学品来布置电路连接或印刷电路板迹线,也被用于半导体工业,它是用于形成单个半导体器件的微小电路的微图案的光刻生产中的关键步骤。Photoresist光刻胶工艺过程控制光线辐照强度和曝光时间至关重要,它可以避免在加工和生产过程中光刻胶的浪费性下曝光或曝光过度。为了保持这些设置,需要具有尽可能接近光阻剂作用光谱的测光表来精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度。

 

美国International Light国际光学公司致力于提供各种光刻胶专用仪器来实现曝光辐射强度测量。ILT2400辐照计以手持价格提供研究级质量,采用可分离探头设计,具有8个量级的动态测量范围,测量速度可达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向查看读数或图形曲线。XSD340B探头响应波段326-401 nm,校准于365nm波长,可测量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源辐照强度。ILT测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

 

ILT XSD系列光刻胶辐照度探头

ILT2400+XSD140A:量程4e-8 to 0.7 W/cm2,响应波段320-475 nm,校准于405nm波长

ILT2400+XSD340A:量程8e-7 to 10 W/cm2,响应波段320-475 nm,校准于405nm波长

ILT2400+XSD140B:量程7e-8 to 1 W/cm2,光谱范围326-401 nm,中心波长365nm

ILT2400+XSD340B:量程3e-6 to 30W/cm2 高强度,测量光谱326-401 nm,校准于365nm

产品规格介绍文档http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_XSD340_SD140.pdf

ILT2400中文版简易操作说明书http://www.testeb.com/download/201805/ILT2400_Quick_Manual.pdf

分析仪软件介绍文档http://www.testeb.com/download/201805/ILT_DataLight-Trend-Manual.pdf

 

美国International Light Photoresist光阻剂曝光辐照度测光表探头选型

辐照计/探头组合 响应波长频谱 测量范围 类型及应用
ILT5000, SED033/A/W 320-475 nm 2e-9 ~ 2 W/cm² 台式,Photoresist光刻胶/光阻材料,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/A/W 320-475 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,同上
ILT1000/A/W 320-475 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT1700, SED033/A/W 320-475 nm 7e-9 ~ 4 W/cm² 台式,Photoresist光刻/光阻剂,同上
ILT2400, XSD140A 320-475 nm 4e-8 ~ 0.7 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, XSD340A 320-475 nm 8e-7 ~ 10 W/cm² 同上,大功率高强度辐照探头
ILT5000, SED033/B/W 326-401 nm 3e-10 ~ 0.2 W/cm² 台式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, SED033/B/W 326-401 nm 2e-8 ~ 0.2 W/cm² 手持式,同上
ILT1700, SED033/B/W 326-401 nm 5e-9 ~ 0.5 W/cm² 台式,同上
ILT1000/B/W 326-401 nm 2e-7 ~ 2 W/cm² 手持式,同上
ILT2400, XSD140B 326-401 nm 7e-8 ~ 1 W/cm² 手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源
ILT2400, XSD340B 326-401 nm 2e-6 ~ 30 W/cm² 手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,高强度测量
ILT2400, SSD001 260-400 nm 6e-6 ~ 0.9 W/cm² 手持式,超薄传感器,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

 

另有UV固化测量系统ILT800传送带式紫外线固化设备曝光量测量,范围5e-3 ~ 40 W/cm2;LT2400+XSD340AT7 320-475 nm,校准于405nm中心波长,可测辐照强度范围高达60 W/cm²。ILT紫外杀菌测光系统ILT2400+SED254/QT,手持式,低可见度环境,高功率紫外线强度应用;ILT2400+SED185/NS185校准于185nm,臭氧/杀菌、光解废气、水处理行业。

美国International Light辐照度计