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美国International Light - 仪器仪表 型号/图片

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美国ILT2400辐照计SED005/UVF/A313探头UV LED能量计350-400nm

International Light ILT2400辐照计及SED005/UVF/A313探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计,在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应,辐照度测量范围0.05μW/cm2~800mW/cm2,可添加峰值波长的PIR校准过滤片,带美国NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

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美国IL国际光学ILT2400测光表XSD340A探头405nm光刻胶辐照度

International Light ILT2400辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保证测量结果精确可靠。

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美国IL国际光学ILT2400辐照计SED254/QT探头254nm紫外杀菌灯测量

International Light ILT2400辐照计SED254/QT探头光谱响应波段249-259nm,校准于254nm中心波长,辐照度量程范围7e-7~10W/cm2,专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果,带美国NIST可溯源校准和证书。

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美国International Light ILT800辐照计输送带式UV固化曝光能量计

International Light ILT800能量计以其215nm至475nm的宽光谱测量范围覆盖了各种测光需求,紧凑型一体化设计,特别适合用于测量每分钟1~80英尺的传送带式曝光设备的曝光量,可应对紫外线固化设备中常见的极端环境条件。

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International Light ILT2400辐照计XSD340AT7探头405nm紫外线UV固化

美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度,量程8e-6至60W/cm2,可用于高强度曝光机UV固化工艺测量,以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。

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美国IL ILT2400辐照计XSD140B探头365nm光阻剂光刻胶辐射测量

International Light国际光学ILT2400辐照计专用探头XSD140B用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量,响应波段326-401nm,中心波长365nm,辐照度量程7e-8至1W/cm2,研究级的质量,手持式产品的价格。

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美国ILT2400+XSD005UVF UVLED辐照计350-410nm固化曝光测量

国际光学International Light ILT2400+XSD005UVF辐照计探头具有平坦一致性的光谱曲线,该系统适用于监测UV LED固化曝光能量强度及时间,在UV固化的关键区域350-410nm波长提供更均匀的响应,以手持式的价格提供研究级的质量。

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美国ILT2400辐射计UV固化光刻紫外杀菌及3D打印曝光辐照度测量

International Light ILT2400辐射计支持多种光测量应用如UV紫外杀菌灯、激光/红外线光、UV固化、扫描激光安全、3D打印、通用光测量等,测量速度达100μs,可切换lux,W/cm2, cd/m2测量单位,精度7%。

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美国ILT2400辐照计SED185探头185nm臭氧杀菌探测器UV光解废气

International Light ILT2400辐照计专用SED185/NS185臭氧杀菌探测器安装了窄带滤光片,响应光谱范围165~200nm ,中心波长185nm,专为测量低强度185nm波长的臭氧杀菌紫外线辐照度,应用于与光解废气、水处理和表面杀菌行业。

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美国ILT2400辐照计SED033/QNDS2/W探头太阳辐射测量100倍衰减滤光片

美国International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W辐照度测量系统用于太阳和太阳模拟器辐射测量,探头响应波长200-1100nm,传感器安装100倍衰减滤光片,读数范围6e-7 W/cm²~10W/cm²,带美国NIST可溯源校准和证书。

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