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日本日置HIOKI IM3523 LCR测试仪40Hz~200KHz频率2ms高速测量

HIOKI日置IM3523 LCR电桥测试仪测量频率40Hz~200kHz,可测量Z,Y,θ,DCR(DC电阻)等15种参数,速度高达2ms,基本精度±0.05%,提供多种SMD治具及RS-232C、GP-IB通讯接口可选择,应用于生产线和自动化测试。

LCR测试仪/电桥表品牌:日置HIOKI
日置HIOKI

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IM3523说明书
  • 日置HIOKILCR测试仪/电桥表IM3523
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IM3523图片

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日置HIOKI IM3523 LCR测试仪/电桥表规格参数与图片

HIOKI IM3523 LCR测试仪测量范围40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA,基本精度±0.05%,测量参数包括Z阻抗[Ω]、Y导纳[Ω]、θ相位角[°]、等效电阻及电感、X电抗[Ω]、G电导率[S]、B电纳[S]等,内置比较器和BIN功能,高速达2ms的快速测试时间。日置IM3523电桥测试仪是应用于生产线和自动化测试领域的理想选择,尺寸小巧与长方形小型测试仪尺寸相同,易于组装嵌入自动机和产线工程系统内部位置。测量结果或设置数据等可以直接通过面板上插入USB进行保存,EXT I/O接口能输出测量完成信号和判断结果信号,也能输入测量触发信号等来控制仪器,另有RS-232C、LAN、GP-IB通讯模块选件。为不同测试对象设计镊型探头、开尔文夹及多种SMD测试治具供客户选购。

 

使用日置IM3523 LCR测试仪的相位测量功能,可以瞬间检测出线圈的绕圈开始、绕圈结束的错误。而且,通过测量阻抗,可以检查触电、生产品和对比品的位置关系,这样能进行更加可靠的检查。HIOKI IM3523测试仪在LCR模式下,能够从测量项目中选择2个进行HI/IN/LO的判断。判断方法除了设置绝对值以外,还能设置%,Δ%。使用连续测量时,能够根据多个测量条件·测量项目判断。面板保存功能多样,最多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

 

日置HIOKI IM3523/IM3533 LCR METER测试仪技术参数

型号 IM3523 LCR测试仪 IM3533测试仪 IM3533-01测试分析仪
测量模式 LCR模式:
单一条件测量

连续测量模式:
通过已保存的条件连续测量(2条)


用于电线零件、管脚元件和SMD元件
LCR模式:
单一条件测量

变压器测量模式:
N匝数比, M漏感, ΔL电感差

连续测量模式:
通过保存的条件进行连续测量
LCR模式(最多60条)
LCR模式:单一条件测量
变压器测量模式:N,M,ΔL
连续测量模式:
通过已保存的条件进行连续测量
LCR模式(最多60条)
分析模式(最多2条)
分析模式:用测量频率扫描
(测量点2~801, 常规扫频明细显示)
测量参数 Z阻抗[Ω]、Y导纳[Ω]、θ相位角[°]、
Rs等效串联电阻=ESR[Ω]、
Rp并联等效电路的电阻[Ω]、DCR
X电抗[Ω]、G电导率[S]、B电纳[S]、
Cs串联等效电路的静电容量[F]、
Cp并联等效电路的静电容量[F]、
Ls串联等效电路的电感[H]、
Lp并联等效电路的电感[H]、
D损失系数=tanδ、Q因素(Q=1/D)
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, DCR(直流电阻),
X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q,
N匝数比, M漏感, ΔL电感差, T

应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域,
及电容电感,电气化学
量 程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程, (所有参数通过Z规定),主机能保存32000组数据
显示范围 Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp±(0.000000[单位]~9.999999G[单位]),Z和Y为绝对值显示
θ: ±(0.000°~999.999°)、D: ±(0.000000~9.999999)、Q: ±(0.00~99999.99)、Δ%: ±(0.0000%~999.9999%)
基本精度 Z: ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率 40Hz~200kHz (1mHz~10Hz步进) 1mHz~200kHz (1mHz~10Hz步进)
信号等级与阻抗 常规模式(输出阻抗100Ω):
V模式·CV模式:
5 mV~5 Vrms, 1mV rms步进
CC模式:
10 μA~50 mA rms,10μA rms步进
常规模式(输出阻抗100Ω):
V模式·CV模式:5mV~5Vrms, 1 mVrms步进
CC模式:10μA~50mArms, 10μArmsCC步进

低阻抗高精度模式(输出阻抗25Ω):
V模式·CV模式:5mV~2.5Vrms, 1m Vrms步进
CC模式:10μA~50mArms, 10μArms步进
显 示 单色LCD 彩色TFT5.7英寸,显示可设置ON/OFF
测量时间与速度 2ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值),速度模式FAST/MED/SLOW/SLOW2
DC偏压 测量 - 常规模式:-5.00V~5.00V (10mV步进)
低阻抗高精度模式:-2.50V~2.50V (10mV步进)
BIN测量 主要参数10种,辅助参数1中,范围外 2个项目10种,范围外
外部接口 EXT I/O、USB(Hi-Speed)
选件:RS-232C/GP-IB/
LAN(10BASE-T/100BASE-TX)
可选择安装其中一种
EXT I/O、USB(Hi-Speed)、USB存储
选件:RS-232C/GP-IB/LAN,可选择安装其中一种
尺寸及重量与标准配置 [IM3523] 约260W×88H×203D mm,约2.4 kg
[IM3533/IM3533-01] 约330W×119H×168D mm,约3.1 kg
标配:主机、电源线、说明书、CD-R(通讯说明书,软件)
需结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具

IM3523测试仪规格说明书http://www.testeb.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf

 

HIOKI IM3523 LCR测试仪探头治具与通讯接口选件订货信息

日置IM3523、IM3533/IM3533-01:包含主机、电源线、使用说明书、CD-R(通讯说明书,样品软件)

测试治具、探头不是标配,请根据需要另外选购选件中的测试治具和探头

[选件——外接通讯模块]

Z3000 GP-IB接口、9151-02 GP-IB连接线

Z3001 RS-232C接口卡、Z3002 LAN接口

9268-10 DC偏置电压单元 直连型,40Hz~8MHz,最大施加电压DC±40V

9269-10 DC偏置电压单元 直连型,40Hz~2MHz,最大电流DC 2A、电压DC±40V

[用于引脚部件测试——测试治具、探头]

L2000 4端子探头:频率DC~8 MHz,可测量端子直径0.3mm~5 mm

9261-10测试治具:频率DC~8 MHz,可测量端子直径0.3mm~1.5mm

9140-10 4端子探头:主机直连型,DC~8 MHz,可测0.3mm~2 mm

[SMD测试治具]

IM9110:直连型,对应0201尺寸,用于侧面电极SMD,电极2端子结构DC~1MHz

IM9100:对应0402,0603,1005这3种尺寸,电极4端子结构可进行高精度测量,DC~8MHz

9677:主机直连型,频率DC~120 MHz,用于侧面有电极的SMD,尺寸1005~1608

9699:主机直连型,频率DC~120 MHz,用于底面有电极的SMD,尺寸1608~2012

9263:主机直连型,频率DC~8 MHz,用于测面有电极的SMD,尺寸2012~5750

L2001 镊形探头:频率8 MHz,前端部分接触头IM9901 、IM9902探针可更换

用于电气化学 4端子探头9500-10,频率DC~200kHz,可测量端子直径0.3~2mm

日置HIOKILCR测试仪/电桥表