仪器仪表 型号/图片

美国ILT2400紫外辐照计XSD340AT7探头XIR395nm波长校准片

International Light ILT2400辐照计及XSD340AT7探头响应范围320-475nm、XIR395校准片用于精确测量395nm波长曝光强度等级和曝光时间，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。

师大光电ST-86LA屏幕亮度计19990cd/㎡自动量程切换

北师大光电ST-86LA亮度计为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计，在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途，便携式自动量程切换，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定适用性强。

台湾路昌UV-340A紫外辐照计UV340A紫外线强度计

LUTRON路昌UV-340A照度计是UVA+UVB型紫外线辐照计，测量波长290nm~390nm，紫外线强度量程范围0~1999uW/cm2、2000~~19990uW/cm2，可用于焊接时监测蓝紫射线辐射、阳光辐射监测、UV杀菌、光刻曝光及实验室用途。

是德科技Keysight E3620A直流电源25V/1A隔离双路输出

美国Keysight E3620A电源25V/1A 50W隔离双路输出，低噪声线性设计，可为通用软件提供干净、可靠的双路输出，具有低噪声和出色的调制功能它外形小巧、价格适中，适用于工作台测试，配有独立的数字面板仪表，使您可以同时监测电压和电流。

日置HIOKI RM3545微电阻计0.006%超高精度0.01μΩ微欧计

日置微电阻计RM3545、RM3545-01、RM3545-02可测范围0.00μΩ~1200MΩ，高速支持自动化判别，从测量开始到判断输出最快2.2ms，最小分辨率0.01μΩ，基本精度0.006%，支持超高精度及多通道4端子20ch。

LD-302C激光扫描测量仪凹凸度及表面缺陷测量

LD-302C激光扫描测量仪用于检测物体表面的变化，非接触式测量物体的缺陷，含凹凸点、凹陷、凸度、裂缝等，测量范围0.2~30mm，适用于光纤、玻璃棒、塑料管等线材或者管材在线生产和检测。

美国ILT2400辐照计SED033/QNDS2/W探头太阳辐射测量100倍衰减滤光片

美国International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W辐照度测量系统用于太阳和太阳模拟器辐射测量，探头响应波长200-1100nm，传感器安装100倍衰减滤光片，读数范围6e-7 W/cm²~10W/cm²，带美国NIST可溯源校准和证书。

International Light ILT2400辐照计XSD340AT7探头405nm紫外线UV固化

美国ILT2400辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高强度曝光机UV固化工艺测量，以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。

Lutron路昌UVA-365紫外辐照计365nm波长辐射照度199900uW/cm2

台湾路昌Lutron UVA-365紫外线辐照计用于365nm波长紫外线测量，199uW/cm2、1.99mW/cm2、19.9mW/cm2三档量程，精度2%，微电脑电路保证高精度，带补正滤光镜的专用探头，是专业高品质UVA照度表。

泰克示波器探头Tektronix A622电流探头100A交直流100kHz

Tektronix A622交直流电流探头可以在DC到100kHz的频率范围上测量从50mA到100A的峰值直流电流，使用霍耳效应电流传感器，为示波器提供一个电压输出，它带有一个BNC连接器和一个隐藏式香蕉头适配器，可以在数字万用表、TekMeter和示波器上使用。